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Abstract Talk
AT 022

Direct probing of the internal electrical field of a pn-GaN-junction

Termin

Datum: 10.10.2022

Zeit: 17:00 – 17:15

Redezeit: 12 Min.

Diskussionszeit: 3 Min.

Ort / Stream:

Room Berlin

Session

Optical Characterization 2

Themen

Characterization
Electronic devices

Mitwirkende

Konstantin Wein (Otto-von-Guerecke University / DE), Prof. Dr. Frank Bertram (Otto-von-Guerecke University / DE), Dr. Gordon Schmidt (Otto-von-Guerecke University / DE), Peter Veit (Otto-von-Guerecke University / DE), Professor Jürgen Christen (Otto-von-Guerecke University / DE), Arne Debald (RWTH University / DE; AIXTRON SE / DE), Prof. Dr. Michael Heuken (AIXTRON SE / DE; RWTH University / DE), Thorsten Zweipfennig (RWTH University / DE), Dr. Holger Kalisch (RWTH University / DE), Professor Andrei Vescan (RWTH University / DE)