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IWN 2022
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Plenary Session
Matteo Meneghini
Defects and reliability in GaN electronics and optoelectronics: challenges and perspectives
Termin
Datum:
14.10.2022
Zeit:
12:15
–
13:00
Ort / Stream:
Room Berlin
Chair
Prof. Dr. Michael Kneissl
Technische Universität Berlin / DE
Programm
12:15
–
13:00
30 Min.
15 Min.
Plenary Talk
P 04
Defects and reliability in GaN electronics and optoelectronics: challenges and perspectives
Professor Matteo Meneghini (University of Padova / IT)
v1.22.0
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