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Abstract Talk
AT 100

Trap parameter extraction and compact modeling of non-ideal dynamic performance in AlGaN/GaN HEMTs

Termin

Datum: 11.10.2022

Zeit: 17:45 – 18:00

Redezeit: 12 Min.

Diskussionszeit: 3 Min.

Ort / Stream:

Salon Rome

Session

MOS Devices

Themen

Characterization
Electronic devices

Mitwirkende

Dr. Carlo De Santi (University of Padova / IT), Nicola Modolo (University of Padova / IT), Giulio Baratella (CMST, IMEC, Ghent University / BE), Dr. Matteo Borga (IMEC VZW / BE), Niels Posthuma (IMEC VZW / BE), Benoit Bakeroot (CMST, IMEC, Ghent University / BE), Dr. Shuzhen You (IMEC VZW / BE), Stefaan Decoutere (IMEC VZW / BE), Professor Gaudenzio Meneghesso (University of Padova / IT), Professor Enrico Zanoni (University of Padova / IT), Professor Matteo Meneghini (University of Padova / IT)