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Abstract Talk
AT 247

Kelvin Probe Force Microscopy under transient variable illumination – a novel characterization technique to unveil charge carrier transfer dynamics in GaN-based materials

Termin

Datum: 14.10.2022

Zeit: 11:15 – 11:30

Redezeit: 12 Min.

Diskussionszeit: 3 Min.

Ort / Stream:

Session

Late News Characterization

Themen

Characterization
Optical devices

Mitwirkende

Dr. Palmerina González-Izquierdo (CEA / FR), Davide Zoccarato (CEA / FR), Névine Rochat (CEA / FR), Julia Simon (CEA / FR), Patrick Le Maitre (CEA / FR), Marion Volpert (CEA / FR), Dr. Matthew Charles (CEA / FR), Dr. Łukasz Borowik (CEA / FR)