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Patrick Le Maitre

CEA / FR

CEA

Weitere Beteiligungen

14.10.2022
11:15 – 11:30 12 Min. 3 Min.
Abstract Talk
AT 247
Kelvin Probe Force Microscopy under transient variable illumination – a novel characterization technique to unveil charge carrier transfer dynamics in GaN-based materials
Characterization, Optical devices