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Poster Presentation
PP 323

Real-space analysis on surface potential fluctuations of Al₂O₃/GaN interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy

Termin

Datum: 12.10.2022

Zeit: 12:00 – 12:00

Redezeit: 0 Min.

Diskussionszeit: 0 Min.

Ort / Stream:

Topic Characterization

Session

Characterization

Themen

Characterization
Electronic devices

Mitwirkende

Professor Kohei Yamasue (Tohoku University / JP), Dr. Yuto Ando (Nagoya University / JP), Professor Manato Deki (Nagoya University / JP), Prof. Dr. Hiroshi Amano (Nagoya University / JP), Professor Yasuo Cho (Tohoku University / JP)