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Tomohiko Mori

Toyota Central R&D Labs / JP

Toyota Central R&D Labs

Weitere Beteiligungen

10.10.2022
16:15 – 16:30 12 Min. 3 Min.
Abstract Talk
AT 029
Increase of reverse leakage current at GaN p-n junctions having different blocking voltages after forward current stress
Characterization, Electronic devices