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IWN 2022
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Seunghwan Kim
Hongik University / KR
Hongik University
Sortiert nach Typ
Datum
Vortrag
11.10.2022
Poster Presentation
PP 238
Observation of degradation in 0.18 μm GaN HEMTs by high field stress using source field plate
Electronic devices, Novel Materials and Nanostructures
Weitere Beteiligungen
11.10.2022
Poster Presentation
PP 238
Observation of degradation in 0.18 μm GaN HEMTs by high field stress using source field plate
Electronic devices, Novel Materials and Nanostructures
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