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IWN 2022
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Dr. Hiroki Watanabe
DENSO CORPORATION / JP
DENSO CORPORATION
Sortiert nach Typ
Datum
Weitere Beteiligungen
10.10.2022
16:15
–
16:30
12 Min.
3 Min.
Abstract Talk
AT 029
Increase of reverse leakage current at GaN p-n junctions having different blocking voltages after forward current stress
Characterization, Electronic devices
10.10.2022
Poster Presentation
PP 010
Analysis of dislocations in GaN crystals using defocus convergent-beam electron diffraction (CBED)
Characterization, Growth
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