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Poster Presentation
PP 231

Investigation of GaN-based p-n diodes at the nanoscale by scanning probe microscopy

Termin

Datum: 11.10.2022

Zeit: 18:00 – 18:00

Redezeit: 0 Min.

Diskussionszeit: 0 Min.

Ort / Stream:

Topic Characterization

Session

Characterization

Themen

Characterization
Electronic devices

Mitwirkende

Dr. Albert Minj (IMEC / BE), Dr. Karen Geens (IMEC / BE), Hu Liang (IMEC / BE), Han Han (IMEC / BE), Dr. Céline Noël (IMEC / BE), Benoit Bakeroot (IMEC / BE; Ghent University / BE), Kristof Paredis (IMEC / BE), Ming Zhao (IMEC / BE), Dr. Thomas Hantschel (IMEC / BE), Stefaan Decoutere (IMEC / BE)