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Advances in in-situ metrology of UV-LED structures in MOVPE

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Characterization

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Mitwirkende

Iris Claussen (LayTec AG / DE), Joachim Rest (LayTec AG / DE), Kolja Haberland (LayTec AG / DE), Dr. Arne Knauer (Ferdinand-Braun-Institut / DE), Prof. Dr. Markus Weyers (Ferdinand-Braun-Institut / DE), Jörg-Thomas Zettler (LayTec AG / DE)

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