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Poster Presentation
PP 325

Dependence of H-concentration on the observed reverse leakage current in p–n diodes

Termin

Datum: 12.10.2022

Zeit: 12:00 – 12:00

Redezeit: 0 Min.

Diskussionszeit: 0 Min.

Ort / Stream:

Topic Characterization

Session

Characterization

Themen

Characterization
Electronic devices

Mitwirkende

Dr. Céline Noël (imec / BE), Dr. Albert Minj (imec / BE), Dr. Thomas Hantschel (imec / BE)