.css-1xsl8rf{width:100%;display:-webkit-box;display:-webkit-flex;display:-ms-flexbox;display:flex;-webkit-align-items:center;-webkit-box-align:center;-ms-flex-align:center;align-items:center;position:relative;overflow:hidden;background:var(--alert-bg);-webkit-padding-start:var(--chakra-space-4);padding-inline-start:var(--chakra-space-4);-webkit-padding-end:var(--chakra-space-4);padding-inline-end:var(--chakra-space-4);padding-top:var(--chakra-space-1);padding-bottom:var(--chakra-space-1);--alert-fg:var(--chakra-colors-orange-600);--alert-bg:var(--chakra-colors-orange-100);font-weight:var(--chakra-fontWeights-semibold);padding-left:var(--chakra-space-4);}.chakra-ui-dark .css-1xsl8rf:not([data-theme]),[data-theme=dark] .css-1xsl8rf:not([data-theme]),.css-1xsl8rf[data-theme=dark]{--alert-fg:var(--chakra-colors-orange-200);--alert-bg:rgba(251, 211, 141, 0.16);}@media screen and (min-width: 48em){.css-1xsl8rf{padding-left:var(--chakra-space-8);}}Bitte aktivieren Sie Javascript um alle Funktionen nutzen zu können und ihre Nutzererfahrung zu verbessern.

Minh Than Do Nguyen

Weitere Beteiligungen

01.03.2023
Poster
IM7.P016
In situ (S)TEM observation of PZT ferroelectric capacitor fatigue-related phenomena under bipolar electric field cycling
IM 7: In situ/operando electron microscopy, MS 4: Functional thin films