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Poster Presentation
PP 009

Analysis of proton-induced defects in AlGaN/GaN heterostructure by using magnetic field-based method

Termin

Datum: 10.10.2022

Zeit: 17:30 – 17:30

Redezeit: 0 Min.

Diskussionszeit: 0 Min.

Ort / Stream:

Topic Characterization

Session

Characterization

Themen

Characterization
Electronic devices

Mitwirkende

Dr. Dong-Seok Kim (KOMAC/KAERI / KR)